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    霍爾元件測試

    原創發布者:北檢院    發布時間:2022-08-08     點擊數:

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    注意:因業務調整,暫不接受個人委托測試望見諒。

    測試樣品:霍爾元件

    測試項目

    外觀,最大允許控制電流,額定控制電流,乘積靈敏度,霍爾輸出電壓時漂,零磁場剩余電壓時漂,可逆性,電線性誤差,滿標度磁線性誤差嗎,氣候試驗,溫度變化,恒定濕熱,高溫貯存,輸入電阻,輸出電阻,磁靈敏度,控制電流靈敏度,內阻溫度系數,霍爾電壓平均溫度系數,熱阻,可焊性,讀數磁線性誤差測試

    測試周期:7-15個工作日,試驗可加急

    霍爾元件測試

    測試標準

    BS IEC 60747-14-2-2000半導體器件 第14-2部分:半導體傳感器 霍爾元件

    IEC 60747-14-2-2000半導體器件 第14-2部分:半導體傳感器 霍爾元件

    JB/T 9473-2020霍爾元件 通用技術條件

    實驗儀器

    實驗室儀器 實驗室儀器 實驗室儀器 實驗室儀器

    測試流程

    霍爾元件流程

    注意事項

    1.具體的試驗周期以工程師告知的為準。

    2.文章中的圖片或者標準以及具體的試驗方案僅供參考,因為每個樣品和項目都有所不同,所以最終以工程師告知的為準。

    3.關于(樣品量)的需求,最好是先咨詢我們的工程師確定,避免不必要的樣品損失。

    4.加急試驗周期一般是五個工作日左右,部分樣品有所差異

    5.如果對于(霍爾元件測試)還有什么疑問,可以咨詢我們的工程師為您一一解答。

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