注意:因業務調整,暫不接受個人委托測試望見諒。
測試樣品:半導體陶瓷
原粉的形貌以及大小,半導體材料缺陷測試,光學試驗,指標非標測試等
測試周期:7-15個工作日,試驗可加急
BS EN 60191-6-8-2001半導體器件的機械標準化 第6-8部分:表面安裝半導體器件封裝外形圖繪制的一般原則 玻璃密封陶瓷方形扁平封裝(G-QFP)的設計導則 IEC 60191-6-8:2001
CEI EN 60191-6-8-2002半導體器件的機械標準化第6-8部分:表面安裝半導體器件封裝外形圖制備的一般規則玻璃密封陶瓷四方扁平封裝的設計指南(QFP)
DIN 41881-2-1978半導體器件; 要求和檢驗, 陶瓷絕緣的金屬外殼
DIN EN 60191-6-8-2002半導體機械標準化.第6-8部分:表面安裝半導體器件包裝的外形制圖準備通則.玻璃密封陶瓷四平包(G-QFP)設計導則
GB/T 4654-2008非金屬基體紅外輻射加熱器通用技術條件
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HG/T 4695-2014工業高純碳酸鋇
IEC 60191-6-8-2001半導體器件的機械標準化 第6-8部分:表面安裝半導體器件封裝外形圖繪制的一般規則 玻璃密封陶瓷四面扁平封裝(G-QEP)的設計指南
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1.具體的試驗周期以工程師告知的為準。
2.文章中的圖片或者標準以及具體的試驗方案僅供參考,因為每個樣品和項目都有所不同,所以最終以工程師告知的為準。
3.關于(樣品量)的需求,最好是先咨詢我們的工程師確定,避免不必要的樣品損失。
4.加急試驗周期一般是五個工作日左右,部分樣品有所差異
5.如果對于(半導體陶瓷測試)還有什么疑問,可以咨詢我們的工程師為您一一解答。