識別卡指標檢測

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注意：因業務調整，暫不接受個人委托測試望見諒。

檢測樣品：識別卡

檢測項目

塊保護時間(BGT)要求，奇偶校驗，阻光度，耐化學性，觸點的表面輪廓要求，符合T=1協議下IO接收時序要求第一磁道ID-1型卡的最多字符數，第一磁道位密度，第一磁道編碼字符集，第三磁道位密度，第三磁道編碼字符集，第二磁道ID-1型卡的最多字符數，磁性材料表面粗糙度，磁性材料表面輪廓，磁條與識別卡的粘合，卡表面畸形要求，字符凸印的起伏高度，帶觸點集成電路卡邏輯操作T=1協議，帶觸點集成電路卡邏輯操作復位應答(ATR)第二磁道位密度卡的耐久性要求卡的阻光度要求，IFD邏輯操作T=0協議，IFD邏輯操作T=1協議，IFD對ICC超過字符等待時間(CWT)的反應要求IFD邏輯操作T=1協議，IFD的塊時序要求帶觸點集成電路卡靜電，帶觸點集成電路邏輯操作卡T=0協議指標等

檢測周期：7-15個工作日，試驗可加急

檢測標準

識別卡 帶觸點的集成電路卡 第3部分：電信號和傳輸協議 GB/T16649.3-2006ISO/IEC7816-3:1997

識別卡 記錄技術 第2部分：磁條-低矯頑力 GB/T15120.2-2012ISOIEC7811-2:2001

識別卡 測試方法 第1部分：一般特性測試 GB/T17554.1-2006ISO/IEC10373-1:1998

識別卡 帶觸點的集成電路卡 第1部分：物理特性 GB/T16649.1-2006ISO/IEC7816-1:1998

識別卡 帶觸點的集成電路卡 第3部分：電信號和傳輸協議 GB/T16649.3-2006ISO/IEC7816-3:1997

識別卡 物理特性 GB/T14916-2006ISO/IEC7810:2003

實驗儀器

測試流程

注意事項

1.具體的試驗周期以工程師告知的為準。

2.文章中的圖片或者標準以及具體的試驗方案僅供參考，因為每個樣品和項目都有所不同，所以最終以工程師告知的為準。

3.關于（樣品量）的需求，最好是先咨詢我們的工程師確定，避免不必要的樣品損失。

4.加急試驗周期一般是五個工作日左右，部分樣品有所差異

5.如果對于（識別卡指標檢測）還有什么疑問，可以咨詢我們的工程師為您一一解答。