振蕩器測試

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注意：因業務調整，暫不接受個人委托測試望見諒。

測試樣品：振蕩器

測試項目

沖擊，自由跌落，穩態加速度，加速度噪聲，低氣壓，恒定濕熱，高溫試驗，交變濕熱，低溫試驗，鹽霧，在清洗劑中浸漬，耐輻照，耐久性試驗，外觀檢驗，尺寸檢驗，絕緣電阻，耐電壓，輸入功率，穩定時間，輸出頻率，頻率特性，起振特性，頻率調整范圍，重現性，振蕩器輸出電壓，振蕩器輸出波形，振動器輸出功率(正弦波)，振蕩器輸出阻抗(正弦波)，互竄隔離度，門控振蕩器的輸出抑制，三態輸出特性，調幅特性，寄生響應，調頻特性，相位噪聲，噪聲消隱脈沖電平，頻譜純度，雜波調頻，相對頻率起伏的均方根值，電磁干擾，相位抖動，引出端的拉力和推力試驗，線狀引出端的彎曲試驗，螺栓轉矩試驗，無引線引出端，密封試驗，可焊性，耐焊接熱，振動，溫度變化：液槽浸漬溫度沖擊，溫度變化：空氣中的熱沖擊，碰撞測試

測試周期：7-15個工作日，試驗可加急

測試標準

CECC 90 104- 213 ISSUE 1-1986BS CECC 90 104-213:14位二進制計數器和振蕩器(英)

CECC 90 109- 657 ISSUE 1-1986數字集成電路 與FS 90 109一致;54/74 HC 4060 帶振蕩器的14級二進制紋波計數器(英,法)

CECC 90 109- 894 ISSUE 1-1990數字集成電路 硅單片CMOS集成電路、空穴或非空穴包裝;型號54/74 HCT 4060 帶振蕩器的14級二進制紋波計數器;評估水平P、Y、L(英,法)

CEI EN 60679-1-2009經質量評估的石英晶體振蕩器第1部分:總規范

CEI EN 60679-3-2014經質量評估的石英晶體振蕩器第3部分:標準輪廓和引線連接

CEI EN 60747-16-5-2014半導體器件第16-5部分:微波集成電路振蕩器

CEI EN 61338-2-2006波導型介質諧振器第2部分:振蕩器和濾波器應用指南

DIN EN 60122-1-2003具有評定質量的石英振蕩器 第1部分:總規范

DIN EN 60679-1-1998評定質量的石英晶體控制振蕩器.第1部分:通用規范

DIN EN 60679-3-2002已評定質量的石英晶體控制的振蕩器.第3部分:標準外線和引線連接

DIN EN 60679-4-1-1998已評定質量的石英晶體受控振蕩器.第4-1部分:空白詳細規范.性能鑒定

DIN EN 60679-4-1998評定質量的石英晶體控制振蕩器.第4部分:分規范.能力鑒定

DIN EN 60679-5-1-1999質量評定的石英晶體受控振蕩器 .第5-1部分:空白詳細規范.合格的驗證

DIN EN 60679-5-1999質量評定的石英晶體振蕩器.第5部分:分規范合格的驗證

DIN EN 60679-6-2011有質量評定的石英晶體振蕩器 第6部分：石英晶體振蕩器和聲表面波振蕩器的相抖動測量方法 應用指南

DIN EN 168200-1993石英振蕩器

DIN EN 169200-1996分規范:石英晶體控制振蕩器

DIN EN 169201-1996空白詳細規范:石英晶體控制振蕩器

DIN IEC/TS 61994-3-2012頻率控制、選擇和探測用壓電、介電和靜電器件及相關材料 術語 第3部分：壓電和介電振蕩器

DIN IEC 679-2-1997石英晶體受控振蕩器.第2部分:振蕩器的使用導則

壓電陶瓷霧化元件測試

諧振器測試

實驗儀器

測試流程

注意事項

1.具體的試驗周期以工程師告知的為準。

2.文章中的圖片或者標準以及具體的試驗方案僅供參考，因為每個樣品和項目都有所不同，所以最終以工程師告知的為準。

3.關于（樣品量）的需求，最好是先咨詢我們的工程師確定，避免不必要的樣品損失。

4.加急試驗周期一般是五個工作日左右，部分樣品有所差異

5.如果對于（振蕩器測試）還有什么疑問，可以咨詢我們的工程師為您一一解答。