混合集成電路檢測

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注意：因業務調整，暫不接受個人委托測試望見諒。

檢測樣品：混合集成電路

檢測項目

剪切強度，鍵合強度，掃描電子顯微鏡(SEM)檢查，粒子碰撞噪聲檢測(PIND)，密封，內部目檢，鍵合強度，掃描電子顯微鏡(SEM)檢查，電流調整率S1，外部目檢等

檢測周期：7-15個工作日，試驗可加急

檢測標準

軍用電子元器件破壞性物理分析方法 GJB4027A-2006

微電子器件試驗方法和程序 GJB548B-2005

混合集成電路DC/DC變換器測試方法 SJ20646-1997

實驗儀器

測試流程

注意事項

1.具體的試驗周期以工程師告知的為準。

2.文章中的圖片或者標準以及具體的試驗方案僅供參考，因為每個樣品和項目都有所不同，所以最終以工程師告知的為準。

3.關于（樣品量）的需求，最好是先咨詢我們的工程師確定，避免不必要的樣品損失。

4.加急試驗周期一般是五個工作日左右，部分樣品有所差異

5.如果對于（混合集成電路檢測）還有什么疑問，可以咨詢我們的工程師為您一一解答。